■アスペクト比の高い材料の場合、分解能の高い高倍率のレンズを用いてZ軸方向をスキャンすると、計測に膨大な時間を要します。画像内合成ツールを用いれば被写体からの信号がないZ軸方向のスキャンを省略して3D計測を完了することが可能です。100〜200ミクロンの段差があるような下図試料を例にとるとサブミクロン分解能を有する計測は通常200/0.1=2000回の計測回数を要しますが。画像内合成ツールを用いた計測では5/0.1=50回計測を 2回行うことで 通常の1/200の時間短縮が可能です。また被写体では表面の反射光の強度が異なる場合が多く、被写体に合わせた感度調整を同時に行うことができるのでより精密な計測が可能となります。